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中科院蘇州納米所助理研究員鐘耀宗:功率HEMT的p-GaN柵極可靠性及其加固方法

視頻IFWS > IFWS20222025-01-21 00:07
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功率HEMT的p-GaN柵極可靠性及其加固方法GaN Gate Reliability and Its Reinforcement Techniques in Power HEMTs鐘耀宗中國科學院蘇州納米技術(shù)與納米仿生研究所助理研究員ZHONG YaozongAssistant Professor of Suzhou Institute of Nano-Tech and Nano-Bionics, Chinese Academy of Sciences
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