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《基于氮化鎵金屬-絕緣層-半導體高電子遷移率晶體管的單片集成DFF-NAND與DFF-NOR電路》作者：朱昱豪，崔苗，李昂，方志成，文輝清，劉雯單位：西交利物浦大學智能工程學院

德國達姆施塔特工業(yè)大學研究助理Ferdinand KEIL帶來了題為加速測試條件下高品質低成本的LED電源壽命對比性研究的主題報告，介紹了一項關于高端LED驅動和低成本LED驅動的對比研究。研究采用了多種加速測試的方法確定器件的壽命，其中包括溫度、濕度、偏差測試（THB）等。一些測試中重要的參數(shù)都會被記錄下來。同時失效分析和失效模式都會跟實驗記錄做對比。比較常見的失效原因是電腐蝕，其一般常出現(xiàn)在低成本器件中，因為通常這些設