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思達科技宣布全球首款量產型微間距大電流MEMS垂直探針卡上市

日期:2021-06-02 來源:半導體行業(yè)觀察閱讀:295
核心提示:半導體測試系統(tǒng)與探針卡知名廠商-思達科技宣布,推出牡羊座Aries Optima MEMS探針卡,是全球首款應用在大量制造的微間距大電流ME
半導體測試系統(tǒng)與探針卡知名廠商-思達科技宣布,推出牡羊座Aries Optima MEMS探針卡,是全球首款應用在大量制造的微間距大電流MEMS垂直探針卡。Aries Optima是MEMS探針卡技術的最新巔峰,不僅制訂新標準,滿足了晶圓級測試的新需求,且進而促使思達科技成為MEMS探針卡技術的市場領導供應商。
 
十多年來,思達科技致力在開發(fā)以及部署高價值的垂直探針技術,研發(fā)了一套系統(tǒng)和方法,以快速適應市場興起的需求。思達科技在過去20年間定期推出新產品,滿足不斷變化、各方面的市場需求,持續(xù)實現對于半導體測試行業(yè)的承諾,包括增進測試效率、降低測試成本,以及測試精度的優(yōu)化、達成最佳市場價值等等。
 
Aries Optima系列的MEMS垂直探針卡,設計方面除了滿足不斷發(fā)展的大電流需求外,探針間距也降至45um,可將投資回報率最大化且減少支出,具有更高的價值。思達擁有批量生產的MEMS探針,負載力為550mA,適用于標準應用;在汽車和高功率方面,則可達700mA、最高至150攝氏度。
 
根據半導體市調機構VLSI的報告,受惠于景氣回溫,其5G拓展、IT基礎建設等,推升芯片需求持續(xù)成長。這些市場因素驅動MEMS技術更加重視生產效率、減少測試時間與成本,市場占有率也正逐漸提高。相較于傳統(tǒng)的Cobra探針,AriesOptima系列穩(wěn)定的DC和泄漏電流表現,非常適合應用在RF、AP、高功率等等的測試。
 
思達科技執(zhí)行長劉俊良博士表示:「Aries Optima探針卡是全球第一張微間距MEMS垂直探針卡,支持大電流測試,同時減少客戶的測試頻率、時間、人力成本等,是下一個世代半導體測試的最佳選擇?!?/div>
 
 
圖說:Aries Optima全球首款應用在大量制造的微間距大電流MEMS垂直探針卡
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