氮化鋁(AlN)具有超寬禁帶寬度(6.2 eV)、高熱導(dǎo)率(340 W/m.K)、高擊穿場強(11.7 MV/cm)、良好的紫外透過率、化學(xué)和熱穩(wěn)定性等優(yōu)異性能,是制備高溫高頻及高功率電子器件以及高Al組分深紫外光電器件的理想襯底材料。物理氣相傳輸(PVT)法是制備高質(zhì)量AlN單晶最有前途的方法,但工業(yè)化批量生長大尺寸、高質(zhì)量AlN單晶的工藝技術(shù)仍面臨著巨大挑戰(zhàn),導(dǎo)致了當前2英寸晶圓全球供應(yīng)量及其有限。
近日,第七屆國際第三代半導(dǎo)體論壇暨第十八屆中國國際半導(dǎo)體照明論壇(IFWS & SSLCHINA 2021)在深圳會展中心舉行。期間,“氮化物半導(dǎo)體襯底與外延技術(shù)“分論壇上,奧趨光電技術(shù)(杭州)有限公司王琦琨 博士做了題為“PVT法生長高質(zhì)量大尺寸AlN單晶的最新進展與挑戰(zhàn)”的視頻主題報告,結(jié)合AlN特性和潛在應(yīng)用,介紹了生長大尺寸AlN單晶的常用策略及相應(yīng)的關(guān)鍵設(shè)備,并闡述了生長大尺寸AlN單晶的生長不用策略的優(yōu)缺點。其次,針對PVT法單晶生長工藝面臨的一系列挑戰(zhàn)。
AIN襯底的高成本主要來自晶體生長的技術(shù)難點,如雜質(zhì)去除、極高溫度工藝、消耗成本和尺寸放大的迭代生長運行等。奧趨光電自主開發(fā)了多代全自動AlN單晶氣相沉積單晶爐、AlN單晶生長工藝過程的對流、傳質(zhì)、過飽和度及生長速率預(yù)測等有限元模擬仿真軟件;基于相應(yīng)自動化設(shè)備及模擬仿真軟件,成功開發(fā)、生長出了高質(zhì)量、直徑60mm的Al極性AlN單晶生長熱場及其配套的可重復(fù)同質(zhì)外延生長固化工藝,有效解決了如生長極性控制、寄生生長、表面生長模式調(diào)控、雜質(zhì)及缺陷控制和晶體開裂等一系列重大問題。
對生長出的AlN單晶經(jīng)過多線切割、研磨與拋光后的晶片進行了高精度XRD、拉曼光譜、位錯密度及深紫外透光性等表征分析。高精度XRD檢測表明,002半高寬低至85arcsec, 102半高寬低至45arcsec,且其分布均具有較高的一致性、均勻性,表明生長的晶體具有極高的結(jié)晶質(zhì)量;拉曼光譜E2(high)峰位為657.28/cm,半高寬為5.8/cm, 與標準的無應(yīng)力峰位657.40/cm比較,表明生長的晶體內(nèi)幾乎無殘余應(yīng)力;采用濕法腐工藝及SEM檢測手段分析其位錯密度在104-105之間;采用分光光度計對其紫外透光性的檢測結(jié)果表明,晶片265nm波段的紫外吸收系數(shù)低至25-35/cm, 且具有高度的均勻性和一致性。
對生長出的AlN單晶經(jīng)過多線切割、研磨與拋光后的晶片進行了高精度XRD、拉曼光譜、位錯密度及深紫外透光性等表征分析。高精度XRD檢測表明,002半高寬低至85arcsec, 102半高寬低至45arcsec,且其分布均具有較高的一致性、均勻性,表明生長的晶體具有極高的結(jié)晶質(zhì)量;拉曼光譜E2(high)峰位為657.28/cm,半高寬為5.8/cm, 與標準的無應(yīng)力峰位657.40/cm比較,表明生長的晶體內(nèi)幾乎無殘余應(yīng)力;采用濕法腐工藝及SEM檢測手段分析其位錯密度在104-105之間;采用分光光度計對其紫外透光性的檢測結(jié)果表明,晶片265nm波段的紫外吸收系數(shù)低至25-35/cm, 且具有高度的均勻性和一致性。
(內(nèi)容根據(jù)現(xiàn)場資料整理,如有出入敬請諒解)