本文將針對SiC MOS產(chǎn)品在驅(qū)動設(shè)計時遇到的寄生導通問題做出詳細的分析，從元器件以及應用層面給出一些設(shè)計建議，并結(jié)合閾值電壓的漂移問題做出簡單的說明。設(shè)計者在實際應用時，需要根據(jù)產(chǎn)品的本身定位在二者之間做一個平衡。
寄生導通產(chǎn)生機理
以下主要探討關(guān)于SiC器件驅(qū)動回路設(shè)計的要點，而如何選擇合適的門極驅(qū)動電壓也是整個驅(qū)動器設(shè)計的關(guān)鍵。對于開通來說，通常選擇門極15V或18V作為門限值，從而可以配置為具有較好的載流能力或者具有很好的短路耐用性。對于關(guān)斷來說，通常使用負電壓關(guān)斷最為保險，可以有效的保證可靠關(guān)斷，減少誤觸發(fā)的機率。
對門極的電容反饋有可能會導致半導體器件產(chǎn)生誤導通動作。而如果使用的是SiC器件，那么通常需要考慮米勒電容所帶來的電容反饋。由米勒效應帶來的電容反饋可能會導致管子的誤動作，更有甚者可能導致上下管直通，引起短路現(xiàn)象的發(fā)生，以至損壞功率器件，其產(chǎn)生的具體機理可參考下圖：
在半橋電路拓撲應用中，當?shù)瓦呴_關(guān)Q2導通時，高邊開關(guān)Q1的電壓變化dVDS/dt。因此，形成了對上管的寄生電容Cgd的充電電流iT。該電流通過米勒電梯Cgd,門極電阻以及電容Cgs形成回路，并對Cgd進行充電 (電容Cgd和Cgs形成一個對VDS進行分壓的電容分壓器)。當在門極電阻上的電壓降超過了上管Q1的閾值開啟電壓，這時候就發(fā)生了所謂的米勒導通或者米勒效應。在此過程中，不斷上升的漏極電位通過米勒電容Cgd上拉Q2的門極電壓。然而，門極關(guān)斷電阻試圖抵消且拉低電壓。但是如果電阻值不足以降低電壓，那么電壓可能會超過管子的閾值電壓，從而致使誤觸發(fā)的可能性，進而導致故障發(fā)生。甚至可能損壞SiC器件。
由誤觸發(fā)導致事件發(fā)生的風險和嚴重程度主要取決于特定的操作條件和測試硬件。高母線電壓，電壓快速上升以及高結(jié)溫是比較關(guān)鍵的點。這些條件不僅會嚴重地上拉門極電壓，而且會降低閾值。硬件相關(guān)的主要影響包括：MOS管內(nèi)部寄生電容Cgd，Cgs以及門極關(guān)斷電阻等。
由Cgd和Cgs電容所引起的寄生電壓會導致門極誤開通的可能性，進而增加整個開關(guān)損耗，造成器件損壞風險。參考下圖：
如何減少寄生導通帶來的誤觸發(fā)
為了減少器件誤差發(fā)的概率，提升產(chǎn)品的可靠性，我們可以從器件層面和應用層面觸發(fā)，考慮對應的措施和方法。
A． 從應用層面上考慮
即使有寄生電容帶來的電壓△Vgs，當使用負壓Vgs off來驅(qū)動時，可以抵消部分△Vgs ，從而使得△Vgs小于門限電壓Vgs(th)。從而避免誤差發(fā)的可能性。
富昌設(shè)計小建議：需要綜合考慮MOS管的寄生參數(shù)以Vgs 裕量來選擇合適的電壓，以確保產(chǎn)品的可靠性。
使用帶米勒（miller）鉗位的驅(qū)動
在設(shè)計驅(qū)動時，可以考慮采用帶米勒鉗位的驅(qū)動產(chǎn)品，從而可以有效鉗制門極電壓，使門極電壓不超過開通閾值電壓，避免誤觸發(fā)的風險。
富昌設(shè)計小建議：可以根據(jù)實際應用需求，選擇帶有米勒鉗位或Desat保護的驅(qū)動芯片，從而簡化系統(tǒng)設(shè)計。
B．從器件選型上考慮
采用較高開通門限值Vgsth的器件
使用較高開通閾值門限電壓的器件，可以有效低降低誤差發(fā)的可能性。
使用合適變?nèi)荼菴gd/Cgs的器件
通常來說，在器件選型時，可以根據(jù)寄生參數(shù)，選擇合適變?nèi)荼鹊腟iC產(chǎn)品，可以有效地降低誤觸發(fā)的風險。
一條粗略估算VGS 裕量的經(jīng)驗方法可供參考，對于600V的SiC產(chǎn)品，最好是選擇變?nèi)荼却笥?50。即Cgd/Cgs>150。此時可計算出△Vgs<4V。(注，由于各家工藝技術(shù)的不同，門限電壓也不盡相同，所以并不適合所有的產(chǎn)品。此處僅參考英飛凌的產(chǎn)品)
富昌設(shè)計小貼士：此處參考的是英飛凌SiC產(chǎn)品，其門限電壓通常在4.5V左右。
VGS 裕量與VGSTH 漂移的平衡
通過上面的計算和分析可知，雖然增加Vgs off負壓可以降低誤觸發(fā)的風險，但是也不是越大越好，因為這會帶來門限電壓的漂移，且負壓越大，由此帶來的VGSTH漂移也越大。所以在設(shè)計時需要綜合考慮二者，尋求一個合理的平衡點。以下示意圖描述了這一點。
本文主要針對驅(qū)動設(shè)計時的寄生導通問題做了詳盡的分析和探討。并從器件選型和應用層面上分別給了幾點建議。最后就VGS裕量以及VGSTH漂移做了簡單的闡述，由于二者是對立的，實際應用中需要綜合考慮兩者之間的利弊關(guān)系，做出平衡選擇，這樣既能充分發(fā)揮SiC器件的特性，又能保證整個產(chǎn)品的可靠性。
（來源：富昌電子）
