報告簡介:基于深層瞬態(tài)光譜學的Al/Ti 4H-SiC肖特基結構缺陷研究 Investigation of Defect Levels of Al/Ti 4H-SiC Schottky Structures byDeep Level Transient Spectroscopy何亞偉 中國科學院半導體研究所 HE Yawei Institute of Semiconductors, Chinese Academy of Sciences
中科院蘇州納米技術與納米仿生研究所研究員劉建平在做“鎵氮基藍光與綠光激光二極管的發(fā)展”報告時表示,對GaN基藍色和綠色的激光二極管(LD)的研究已經引起人們的廣泛關注,在過去的幾年里,為了滿足激光顯示應用的需求。我們提高了發(fā)光均勻性和減少基藍光LD結構面自支撐GaN襯底上生長GaN的內部損失。同質外延GaN層的形貌是由邊角料取向和GaN襯底角度很大的影響。并且通過工程InGaN/GaN量子阱的界面,我們已經實現了綠色激光器結構1.85 kA cm-2低閾值電流密度。在室溫連續(xù)波作用下,綠光LD的輸出功率為