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派恩杰“集成ESD的SiC功率MOSFET器件及制備方法”專(zhuān)利獲授權(quán)

日期:2024-07-31 閱讀:244
核心提示:天眼查顯示,派恩杰半導(dǎo)體(杭州)有限公司近日取得一項(xiàng)名為集成ESD的SiC功率MOSFET器件及制備方法的專(zhuān)利,授權(quán)公告號(hào)為CN112951

天眼查顯示,派恩杰半導(dǎo)體(杭州)有限公司近日取得一項(xiàng)名為“集成ESD的SiC功率MOSFET器件及制備方法”的專(zhuān)利,授權(quán)公告號(hào)為CN112951922B,授權(quán)公告日為2024年7月23日,申請(qǐng)日為2021年3月25日。

本發(fā)明提供了一種集成ESD的SiC功率MOSFET器件及其制備方法,由于用于ESD的PN結(jié)二極管是集成在MOSFET器件本身需要的柵極壓焊區(qū)下方,不需要額外的芯片面積,不會(huì)影響芯片的集成度。且柵極壓焊區(qū)的面積較大,使得PN結(jié)二極管的面積也可以較大,PN結(jié)二極管環(huán)繞在柵極壓焊區(qū)的下方,可以利用柵極壓焊區(qū)的面積,增大PN結(jié)二極管的面積提高ESD泄放能力;由于通過(guò)調(diào)節(jié)PN結(jié)邊緣的形貌和摻雜濃度就可以調(diào)節(jié)PN結(jié)二極管的擊穿電壓,因此通過(guò)在第一摻雜離子重注入?yún)^(qū)和第二摻雜離子注入?yún)^(qū)的邊緣設(shè)置多個(gè)尖峰角,就可以調(diào)節(jié)PN結(jié)二極管的擊穿電壓;且所述PN結(jié)二極管的形成是和形成MOSFET器件的工藝步驟同步進(jìn)行,不額外增加光刻掩膜步驟,不會(huì)增加芯片制作成本。

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