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忱芯科技申請?zhí)蓟韫β拾雽?dǎo)體器件的驅(qū)動板和測試方法專利

日期:2024-09-27 閱讀:272
核心提示:國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示,忱芯科技(上海)有限公司申請一項名為一種碳化硅功率半導(dǎo)體器件的驅(qū)動板和測試方法的專利,公開號 CN

 國家知識產(chǎn)權(quán)局信息顯示,忱芯科技(上海)有限公司申請一項名為“一種碳化硅功率半導(dǎo)體器件的驅(qū)動板和測試方法”的專利,公開號 CN 118688487 A ,申請日期為 2024 年 6 月。

專利摘要顯示,本申請公開了一種碳化硅功率半導(dǎo)體器件的驅(qū)動板,包括隔離電源、測試引腳接口、第一固態(tài)繼電器和第二固態(tài)繼電器,其中,測試引腳接口包括Source引腳接口、Drain引腳接口、Gate1引腳接口、Gate2引腳接口和Kelvin source引腳接口,第一固態(tài)繼電器用于在測試引腳接口接入TO?247?3封裝的器件時,將隔離電源的副邊電源地切換連接到Source引腳,第二固態(tài)繼電器用于在測試引腳接口接入TO?247?4封裝的器件時,將隔離電源的副邊電源地切換連接到Kelvin source引腳。本方案能夠提高不同封裝結(jié)構(gòu)器件的測試效率。

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