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平湖實(shí)驗(yàn)室何光澤：面向SiC/GaN功率器件失效分析的測(cè)試技術(shù)與典型應(yīng)用| IFWS2024

CSPSD 2024成都前瞻|電子科技大學(xué)劉人寬：基于多層級(jí)多場(chǎng)域的壓接型IGBT模塊失效演化機(jī)制研究

凌光紅外再獲新融資，進(jìn)一步拓展半導(dǎo)體失效分析等領(lǐng)域應(yīng)用

MOSFET的失效機(jī)理：dV/dt失效和雪崩失效

蘇試宜特檢測(cè)蔡甦谷處長(zhǎng)：芯片先進(jìn)封裝之失效分析與應(yīng)用

直播回放：關(guān)于半導(dǎo)體器件良率提升及失效分析，這里有一份干貨分享

如何快速有效的提升功率半導(dǎo)體器件良率，并對(duì)失效進(jìn)行關(guān)鍵性分析

摩爾定律失效后，芯片從東方崛起？

中興通訊蔡小龍：針對(duì)5G基站中射頻氮化鎵HEMT的失效分析研究

荷蘭Ampleon Netherlands B.V.陳松：研發(fā)轉(zhuǎn)量產(chǎn)，射頻功率器件量產(chǎn)階段零失效目標(biāo)下的挑戰(zhàn)和實(shí)踐

電子科技大學(xué)劉成藝：n型4H-SiC上Ti/TiN/Pt歐姆接觸電極在空氣中高溫退火處理的失效機(jī)理研究

SiC MOSFET應(yīng)用技術(shù)在雪崩條件下的魯棒性評(píng)估

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